Dou S.X., Pan A.V., Shcherbakova O.V., Fedoseev S.A., Masilamani N.
Ключевые слова: HTS, YBCO, degradation studies, geometry effects, thickness dependence, buffer layers, thin films, substrate single crystal, microstructure, lattice parameter, fabrication, experimental results
IEEE Transactions Applied Superconductivity, 2013, v.23, N 3, p.6601105
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.